鍛件內(nèi)部缺陷探傷我們通常采用宇時(shí)先鋒超聲波探傷儀來檢測其內(nèi)部缺陷，這種探傷方法方便快捷，使用簡單，檢出缺陷效率高。

探傷方法如下：

1、軸類鍛件探傷

    縱波(直探頭)可在軸的園周方向和軸端部探測

當(dāng)軸很長時(shí)在軸端部方向一般不查或只查端部一部分區(qū)域，主要在軸園周方向查。帶中心孔鍛件只在軸園周方向探測。

    橫波斜探頭:一般周向不查。如采用周向檢測，則應(yīng)進(jìn)行順、逆時(shí)針二個(gè)方向探測。但只能探測聲波能掃查到的外表面附近區(qū)域內(nèi)缺陷，內(nèi)部區(qū)域內(nèi)缺陷探測不到。

    軸向檢測應(yīng)正、反二個(gè)方向檢測可探測鍛件全體，且至少探測園周方向不少于圓周面的 180°范圍。

2、具有平行平面和園盤形餅類鍛件。

具有平行平面鍛件和餅型鍛件采用縱波在兩個(gè)平行面探測，當(dāng)厚度較大時(shí)也可在鍛件厚度方向側(cè)面探測。見JB/T47303 圖7中c。

3、碗型鍛件:采用縱波檢驗(yàn)，探頭可置于碗形鍛件內(nèi)部或外部探測。見JB/T4730.3 圖7中d

4 、簡型鍛件

      縱波:

單探頭探測時(shí)，探頭置于簡形鍛件外園面、內(nèi)園面和端部探測。在端部探測時(shí),探測長根據(jù)靈敏度確定,一般控制在 500~800mm 內(nèi)。雙晶直探頭探測時(shí)，探頭置于簡形鍛件外園面和內(nèi)園面探測。在簡形鍛件很長時(shí)一般不采用在端部探測。見JB/T4730.3 圖7中 a和 b。

    橫 波: 軸向探測，一般正、反兩方向各探測。周向探測，逆、順時(shí)針各探測一次。見JB/T4730.3 附錄C中圖。但對(duì) T/D>0.226簡型鍛件中 T/D>0.226的部份不適于用外周向探測，因此時(shí)純橫波探測不到。